レゾナックは、表面分析手法の一つである走査型プローブ顕微鏡（SPM）に関する特許技術について、２月14日、島津製作所と非独占的実施権によるライセンス契約を締結した。

SPMは、ナノメートルオーダーで材料表面の微細な形状を調べることができる顕微鏡。しかしSPMの測定方法をフォースカーブモードにすると、従来技術では、鮮明な画像が得られなかったり、データの解釈に注意を要したりすることがあった。同社は、SPMフォースカーブ測定時に、探針と材料表面との間に引力が働く距離に着目。この距離を「破断長」と定義し、大量のデータを効率よく解析できる技術を見出して、容易に破断長像として出力できるようにした。

破断長像では、凝着力像や弾性率像では得られない鮮明な像が得られるとともに、観測される力が「強いか・弱いか」だけでなく、「強く長いか・強く短いか」という解析ができるようになる。破断長は、凝着力や弾性率と同様に材料表面の特性を表す基本的な計測指標として活用できることから、同社は、2022年に関連技術の特許を取得した。本技術は、種々の材料表面に適用することができ、特に高分子や柔らかい材料表面の分析において有効。

島津製作所は、国内大手の分析・計測機器メーカーで、SPMをグローバルに提供している。このたび、本技術の像の鮮明さ、および汎用性が評価され、本契約締結に至った。本技術は、島津製作所が販売するSPMのオプションソフトウェアとして搭載が検討される予定。